|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 89 gevonden artikelen
| Titel: |
Channeling charged particle activation analysis of light impurities at trace levels in GaAs |
| Auteur: |
Schenkel, Th. Hebert, H. Meyer, J.D. Michelmann, R.W. Bethge, K. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 89 (1994) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1994 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 89 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |