|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Ion microprobe system combined with scanning electron microscope for high precision aiming |
| Auteur: |
Ohdomari, I. Sugimori, M. Koh, M. Noritake, K. Takiguchi, Y. Shimizu, H. Tanaka, R. Kamiya, T. Utsunomiya, N. Minehara, E. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 72 (1992) nr. 3-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |