|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterisation of thin layers in processed silicon |
| Auteur: |
Earwaker, L.G. Briggs, M.C. Nasir, M.I. Farr, J.P.G. Keen, J.M. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 66 (1992) nr. 1-2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |