|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profiling of hydrogen isotopes in thin, low-Z films by scattering recoil coincidence spectrometry |
| Auteur: |
Forster, J.S. Leslie, J.R. Laursen, T. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 66 (1992) nr. 1-2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |