|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 36 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
TCAD simulation method on single-event burnout of SiC JBS diodes |
| Auteur: |
Fu, Chengwen Dong, Xiaoping Huang, Wende Liu, Yaosen Ma, Yao Huang, Mingmin Yang, Zhimei Li, Yun Gong, Min |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 566 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 36 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |