|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Ti nanolayers irradiated with Xeq＋ ions using synchrotron radiation based X-ray reflectometry |
| Auteur: |
Stachura, R. Banaś, D. Kubala-Kukuś, A. Stabrawa, I. Jagodziński, P. Szary, K. Foks, A. Braziewicz, J. Semaniak, J. Pajek, M. Aquilanti, G. Božičević Mihalić, I. Teodorczyk, M. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 536 () nr. C pagina's 126-131 |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |