Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
 
 
  Measured and simulated depth-profiles of fragments induced by 200 MeV/u 40Ar ion beam in copper
 
 
Titel: Measured and simulated depth-profiles of fragments induced by 200 MeV/u 40Ar ion beam in copper
Auteur: Mustafin, Edil
Katrík, Peter
Pavlovič, Márius
Weick, Helmut
Verschenen in: Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms
Paginering: Jaargang 531 () nr. C pagina's 82-92
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: The Author(s)
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland