|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 77 van 91 gevonden artikelen
| Titel: |
Sensitivity of trace-element analysis by X-ray emission induced by 0.1–10 MeV electrons |
| Auteur: |
Georgiadis, A.P. Apostolakis, D. Vourkas, M. Pape, A. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 50 (1990) nr. 1-4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 77 van 91 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |