|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 91 gevonden artikelen
| Titel: |
Diffusion and strain relaxation in Si/Si1−x Ge x/Si structures studied with Rutherford backscattering spectrometry |
| Auteur: |
van Ijzendoorn, L.J. van de Walle, G.F.A. van Gorkum, A.A. Theunissen, A.M.L. van den Heuvel, R.A. Barrett, J.H. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 50 (1990) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 91 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |