|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Stigmatic imaging of secondary ions in MeV-SIMS spectrometry by linear Time-of-Flight mass spectrometer and the TimePix detector |
| Auteur: |
Jenčič, Boštjan Šepec, Luka Vavpetič, Primož Kelemen, Mitja Rupnik, Zdravko Vencelj, Matjaž Vogel-Mikuš, Katarina Ogrinc Potočnik, Nina Ellis, Shane R. Heeren, Ron M.A. Pelicon, Primož |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 452 (2019) nr. C pagina's 1-6 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |