|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic and electron analyzing of irradiation damage in Si/SiO2 interfaces caused by irradiation: First-principle calculation |
| Auteur: |
Wei, Yidan Li, Xingji Liu, Chaoming Liu, Yong Zhao, Jinyu Dong, Shangli Li, Hongxia Wang, Qingyan |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 451 (2019) nr. C pagina's 89-92 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |