|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 81 gevonden artikelen
| Titel: |
Argon ions deeply implanted in silicon studied by Rutherford/Elastic Backscattering and Grazing Incidence X-ray Fluorescence spectroscopy |
| Auteur: |
Kokkoris, M. Androulakaki, E.G. Czyzycki, M. Erich, M. Karydas, A.G. Leani, J.J. Migliori, A. Ntemou, E. Paneta, V. Petrović, S. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 450 () nr. C pagina's 144-148 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 81 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |