|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 74 van 81 gevonden artikelen
| Titel: |
The RBS analysis for a thin amorphous Si layer formed on clean and H-terminated Si(0 0 1) surfaces followed by medium-energy IBIEC treatments |
| Auteur: |
Yachida, G. Inoue, K. Hoshino, Y. Nakata, J. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 450 () nr. C pagina's 229-233 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 74 van 81 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |