|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 55 van 81 gevonden artikelen
| Titel: |
PIXE-measurement of Kα X-ray production cross sections for 1-MeV C+-ions in thick samples of Si, Fe, Cu and Zn |
| Auteur: |
Chaiwai, C. Yu, L.D. Tippawan, U. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 450 () nr. C pagina's 279-285 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 55 van 81 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |