|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 165 gevonden artikelen
| Titel: |
A study of electron beam evaporated SiO2, TiO2, and Al2O2 films using RBS, HFS, and SIMS |
| Auteur: |
Baumann, S.M. Martner, C.C. Martin, D.W. Blattner, R.J. Braundmeier Jr., A.J. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 45 (1990) nr. 1-4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 165 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |