|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 149 van 165 gevonden artikelen
| Titel: |
The analysis of semiconductor thin films with complementary Mössbauer scattering-RBS, channeling and nuclear reaction |
| Auteur: |
Stedile, F.C. Mosca Jr., D.H. Leite, C.V.Barros Freire Jr., F.L. Schreiner, W.H. Baumvol, I.J.R. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 45 (1990) nr. 1-4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 149 van 165 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |