|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of TID on latch up induced by pulsed irradiation in CMOS circuits |
| Auteur: |
Li, Ruibin He, Chaohui Chen, Wei Li, Junlin Wang, Chenhui Wang, Guizhen Qi, Chao Yang, Shanchao Jin, Xiaoming Liu, Yan Bai, Xiaoyan |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 440 (2019) nr. C pagina's 95-100 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |