|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of self-implanted silicon amorphization with X-rays at grazing angles of incidence |
| Auteur: |
Gilles, B. Brunel, M. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 44 (1990) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |