|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution in situ Li depth profiling of thin films stacked Li ion batteries under charging conditions by means of TERD and RBS techniques with 5 MeV He+2 ion beam |
| Auteur: |
Morita, K. Tsuchiya, B. Oonishi, J. Mitsukuchi, N. Yamamoto, T. Iriyama, Y. Tsuchida, H. Majima, T. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 437 (2018) nr. C pagina's 8-12 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |