|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications |
| Auteur: |
Silva, T.F. Rodrigues, C.L. Added, N. Rizzutto, M.A. Tabacniks, M.H. Mangiarotti, A. Curado, J.F. Aguirre, F.R. Aguero, N.F. Allegro, P.R.P. Campos, P.H.O.V. Restrepo, J.M. Trindade, G.F. Antonio, M.R. Assis, R.F. Leite, A.R. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 422 (2018) nr. C pagina's 68-77 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |