|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
The quantitative analysis of silicon carbide surface smoothing by Ar and Xe cluster ions |
| Auteur: |
Ieshkin, A.E. Kireev, D.S. Ermakov, Yu.A. Trifonov, A.S. Presnov, D.E. Garshev, A.V. Anufriev, Yu.V. Prokhorova, I.G. Krupenin, V.A. Chernysh, V.S. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 421 () nr. C pagina's 27-31 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |