|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 55 van 76 gevonden artikelen
| Titel: |
Radiation damage and defects in NPN bipolar junction transistors irradiated by silicon ions with various energies |
| Auteur: |
Liu, Chaoming Zhang, Xiaodong Yang, Jianqun Li, Xingji Ma, Guoliang |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 409 (2017) nr. C pagina's 246-250 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 55 van 76 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |