|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscale imaging of alteration layers of corroded international simple glass particles using ToF-SIMS |
| Auteur: |
Zhang, Jiandong Neeway, James J. Zhang, Yanyan Ryan, Joseph V. Yuan, Wei Wang, Tieshan Zhu, Zihua |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 404 (2017) nr. C pagina's 45-51 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |