|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of SEU imaging for analysis of device architecture using a 25MeV/u 86Kr ion microbeam at HIRFL |
| Auteur: |
Liu, Tianqi Yang, Zhenlei Guo, Jinlong Du, Guanghua Tong, Teng Wang, Xiaohui Su, Hong Liu, Wenjing Liu, Jiande Wang, Bin Ye, Bing Liu, Jie |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 404 (2017) nr. C pagina's 254-258 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |