|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Charge collection efficiency degradation induced by MeV ions in semiconductor devices: Model and experiment |
| Auteur: |
Vittone, E. Pastuovic, Z. Breese, M.B.H. Garcia Lopez, J. Jaksic, M. Raisanen, J. Siegele, R. Simon, A. Vizkelethy, G. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 372 (2016) nr. C pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| volgende >> |