|
Investigations on heavy ion induced Single-Event Transients (SETs) in highly-scaled FinFETs |
|
|
|
Titel: |
Investigations on heavy ion induced Single-Event Transients (SETs) in highly-scaled FinFETs |
Auteur: |
Gaillardin, M. Raine, M. Paillet, P. Adell, P.C. Girard, S. Duhamel, O. Andrieu, F. Barraud, S. Faynot, O. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
Paginering: |
Jaargang 365 (2015) nr. PB pagina's 5 p. |
Jaar: |
2015 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|