|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 129 gevonden artikelen
| Titel: |
AMS method for depth profiling of trace elements concentration in materials – Construction and applications |
| Auteur: |
Stan-Sion, C. Enachescu, M. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 361 (2015) nr. C pagina's 250-256 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 129 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |