|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 63 van 77 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning electron microscopy of the surfaces of ion implanted SiC |
| Auteur: |
Malherbe, Johan B. van der Berg, N.G. Kuhudzai, R.J. Hlatshwayo, T.T. Thabethe, T.T. Odutemowo, O.S. Theron, C.C. Friedland, E. Botha, A.J. Wendler, E. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 354 (2015) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 63 van 77 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |