|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 57 van 64 gevonden artikelen
| Titel: |
Self-consistent depth profiling and imaging of GaN-based transistors using ion microbeams |
| Auteur: |
Redondo-Cubero, A. Corregidor, V. Vázquez, L. Alves, L.C. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 348 (2015) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 57 van 64 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |