|
Sputtering of SiN films by 540keV C 60 2 + ions observed using high-resolution Rutherford backscattering spectroscopy |
|
|
|
Titel: |
Sputtering of SiN films by 540keV C 60 2 + ions observed using high-resolution Rutherford backscattering spectroscopy |
Auteur: |
Nakajima, K. Morita, Y. Kitayama, T. Suzuki, M. Narumi, K. Saitoh, Y. Tsujimoto, M. Isoda, S. Fujii, Y. Kimura, K. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
Paginering: |
Jaargang 332 (2014) nr. C pagina's 5 p. |
Jaar: |
2014 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|