Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 101 van 102 gevonden artikelen
 
 
  Ultra-thin film and interface analysis of high-k dielectric materials employing Time-Of-Flight Medium Energy Ion Scattering (TOF-MEIS)
 
 
Titel: Ultra-thin film and interface analysis of high-k dielectric materials employing Time-Of-Flight Medium Energy Ion Scattering (TOF-MEIS)
Auteur: Primetzhofer, D.
Dentoni Litta, E.
Hallén, A.
Linnarsson, M.K.
Possnert, G.
Verschenen in: Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms
Paginering: Jaargang 332 (2014) nr. C pagina's 4 p.
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 101 van 102 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland