|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 63 van 83 gevonden artikelen
| Titel: |
SEM analysis of ion implanted SiC |
| Auteur: |
Malherbe, Johan B. van der Berg, N.G. Botha, A.J. Friedland, E. Hlatshwayo, T.T. Kuhudzai, R.J. Wendler, E. Wesch, W. Chakraborty, P. da Silveira, E.F. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 315 (2013) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 63 van 83 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |