|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Secondary ion beam profile calculations in a 252Cf plasma desorption time-of-flight mass spectrometer |
| Auteur: |
Riggi, F. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 31 (1988) nr. 4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |