|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Variation of yield with thickness in SIMS and PDMS: Measurements of secondary ion emission from organized molecular films |
| Auteur: |
Bolbach, G. Beavis, R. Negra, S.Della Deprun, C. Ens, W. Lebeyec, Y. Main, D.E. Schueler, B. Standing, K.G. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 30 (1988) nr. 1 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 21 gevonden artikelen
| << vorige |