|
Depth profiling of Al2O3 +TiO2 nanolaminates by means of a time-of-flight energy spectrometer |
|
|
|
Titel: |
Depth profiling of Al2O3 +TiO2 nanolaminates by means of a time-of-flight energy spectrometer |
Auteur: |
Laitinen, M. Sajavaara, T. Rossi, M. Julin, J. Puurunen, R.L. Suni, T. Ishida, T. Fujita, H. Arstila, K. Brijs, B. Whitlow, H.J. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
Paginering: |
Jaargang 269 (2011) nr. 24 pagina's 4 p. |
Jaar: |
2011 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|