|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Dislocation generation related to micro-cracks in Si wafers: High temperature in situ study with white beam X-ray topography |
| Auteur: |
Danilewsky, A. Wittge, J. Hess, A. Cröll, A. Allen, D. McNally, P. Vagovič, P. Cecilia, A. Li, Z. Baumbach, T. Gorostegui-Colinas, E. Elizalde, M.R. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 268 (2010) nr. 3-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |