|
Total ionizing dose effects in high voltage devices for flash memory |
|
|
|
Titel: |
Total ionizing dose effects in high voltage devices for flash memory |
Auteur: |
Liu, Zhangli Hu, Zhiyuan Zhang, Zhengxuan Shao, Hua Chen, Ming Bi, Dawei Ning, Bingxu Wang, Ru Zou, Shichang |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
Paginering: |
Jaargang 268 (2010) nr. 23 pagina's 6 p. |
Jaar: |
2010 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|