|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 88 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of defects in implanted silica glass by depth profiling Positron Annihilation Spectroscopy |
| Auteur: |
Brusa, R.S. Mariazzi, S. Ravelli, L. Mazzoldi, P. Mattei, G. Egger, W. Hugenschmidt, C. Löwe, B. Pikart, P. Macchi, C. Somoza, A. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 268 (2010) nr. 19 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 88 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |