|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 77 van 119 gevonden artikelen
| Titel: |
On artefacts in the secondary ion mass spectrometry profiling of high fluence H+ implants in GaAs |
| Auteur: |
Bailey, M.J. Jeynes, C. Sealy, B.J. Webb, R.P. Gwilliam, R.M. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 268 (2010) nr. 11-12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 77 van 119 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |