|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 119 gevonden artikelen
| Titel: |
A new cluster-ion-beam source for secondary ion mass spectrometry (SIMS) using the electrospray of a pure ionic liquid under high vacuum |
| Auteur: |
Fujiwara, Yukio Saito, Naoaki Nonaka, Hidehiko Nakanaga, Taisuke Ichimura, Shingo |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 268 (2010) nr. 11-12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 119 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |