|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling of ion beam induced damage in Si during channeling Rutherford backscattering spectrometry analysis |
| Auteur: |
Hua, Wei Yao, Shu-De Wijesundera, Dharshana Wang, Xue-Mei Chu, Wei-Kan Martin, Michael Carter, Jesse Hollander, Mark Shao, Lin |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 267 (2009) nr. 5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |