|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of secondary electron emission in helium ion microscope with gallium ion and electron microscopes |
| Auteur: |
Ohya, K. Yamanaka, T. Inai, K. Ishitani, T. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 267 (2009) nr. 4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |