|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 215 van 233 gevonden artikelen
| Titel: |
The analysis of a thin SiO2/Si3N4/SiO2 stack: A comparative study of low-energy heavy ion elastic recoil detection, high-resolution Rutherford backscattering and secondary ion mass spectrometry |
| Auteur: |
Brijs, B. Sajavaara, T. Giangrandi, S. Janssens, T. Conard, T. Arstila, K. Nakajima, K. Kimura, K. Bergmaier, A. Dollinger, G. Vantomme, A. Vandervorst, W. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 249 (2006) nr. 1-2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 215 van 233 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |