|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of r.f. sputtered thin Mo, W and Si films as precursors to multilayer X-ray mirrors |
| Auteur: |
Bhattacharyya, D. Joseph, D. Poswal, A.K. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 248 (2006) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |