|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth-resolved strain measurements in thin films by energy-variable X-ray diffraction |
| Auteur: |
Zolotoyabko, E. Pokroy, B. Cohen-Hyams, T. Quintana, J.P. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 246 (2006) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |