|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
Ion beam analysis of PECVD silicon oxide thin films |
| Auteur: |
Fernandez-Lima, F. Rodriguez, J.A. Pedrero, E. Fonseca Filho, H.D. Llovera, A. Riera, M. Dominguez, C. Behar, M. Zawislak, F.C. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 243 (2006) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |