|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the accuracy of several methods for determining the concentration of 11B+ implanted silicon |
| Auteur: |
Duggan, J.L. Naab, F. Hossain, K. Holland, O.W. McDaniel, F.D. Xu, J.J. Zhao, Z.Y. Guo, B.N. Liu, J. Shim, K.H. Jeong, U. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 243 (2006) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |