|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 99 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of local lattice tilt in Si1−x Ge x virtual substrate using high resolution channeling contrast microscopy |
| Auteur: |
Seng, H.L. Osipowicz, T. Zhang, J. Tok, E.S. Watt, F. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 231 (2005) nr. 1-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 99 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |