|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Erratum to: “Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) analysis of catalyst coatings used in microreactors” [Nucl. Instr. and Meth. B 219–220 (2004) 880–885] |
| Auteur: |
Gnaser, Hubert Bock, Wolfgang Rowlett, Elisabeth Men, Yong Ziegler, Christiane Zapf, Ralf Hessel, Volker |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 226 (2004) nr. 3 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |