|
EXAFS characterisation of Ge nanocrystals in silica |
|
|
|
Titel: |
EXAFS characterisation of Ge nanocrystals in silica |
Auteur: |
Ridgway, M.C. Azevedo, G.de M. Glover, C.J. Elliman, R.G. Llewellyn, D.J. Cheung, A. Johannessen, B. Brett, D.A. Foran, G.J. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
Paginering: |
Jaargang 218 (2004) nr. C pagina's 6 p. |
Jaar: |
2004 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|